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海诚信丰测振仪系列
北京振通自产测振仪
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SKF 激光轴对中仪 TKSA 40
SKF TKSA 40激光轴对中仪因使用模拟的图形化...
SKF Loop-powered CMSS 420VT振动变送器 CMSS 420VT
CMSS 420VT 压电式、集中供电(信号线与电源线...
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SKF设备状态变送器(MCT)- 位移变送器/监测器 CMSS 545 CMSS 545
CMSS 545系列是位移变送器/监测器。 它的输入...
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测厚仪系列
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涡流测厚仪
库仑(电解)测厚仪
超声波测厚仪
涂层测厚仪
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产品名称/型号
产品简单介绍
美国DeFelsko涂镀层测厚仪
PosiTector 6000系列
美国DeFelsko涂镀层测厚仪特点:简单 -超大易读LCD显示屏,菜单可中文显示两键操作 即时自动设定自动关机,一体型可自动开机平均置零,利于在粗糙面上置零重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态仪器背面有简要说明 耐用 -耐磨的蓝宝石探头耐酸、耐油、耐水、耐溶剂、防尘读数不受振动影响一年保证期
英国PTE涂层测厚仪
EBAN3000 MK2
EBAN3000 MK2英国PTE涂层测厚仪,铁基和非铁基两用型则包含上述两种测量模式。具有带日期和时间记录的批组处理和统计功能。测量结果可直接输出到打印机或通过Data Analysis Program软件下载到PC。量程可扩展至50mm,精度最高可达±1%。
英国PTE公司 EBAN2000 MK2 涂层测厚仪
EBAN2000 MK2
EBAN2000 MK2和EBAN3000 MK2是具有顶级性能的涂层测量仪, 它们的模块化设计允许客户在当前购买或以后升级时选择自己所需的扩展功能。 使用方便, 只需把探头放在被测工件的涂层上, 仪器就会发出 “哔”声, 测量结果会显示在LCD上。这个读数将会保持到新的读数出来为止。 简便精确的多种校准工具适用于各种不同的基材形状和喷丸/砂表面。 可分离式, 保持持续压力测量的探头, 可在高温下做间歇测量。 仪器符合BS, ISO, DIN, ASTM和SPC中规定的测量方法。仪器和标准箔片的校准证书
英国PTE涂层测厚仪
EBAN1000
EBAN1000英国PTE涂层测厚仪是市场上最简便的, 经济的和便携的涂层测厚仪,在暗处有对用户界面良好的背光显示。简单方便的单键操作和自动关机功能,适用于测量钢铁基体上的非磁性涂层。例如:涂料, 环氧树脂, 锡, 铜, 锌, 镉, 镀层, 金属喷涂, 铬, 粉末涂层, 油漆和瓷釉等等。
德国PHYNIX便携式涂镀层测厚仪
Surfix-PROFN型
德国PHYNIX便携式涂镀层测厚仪Surfix-PROFN * 使用方便 * 操作简单 * 测量精确 * 设计新颖 * 可更换探头 * 德国制造
涂层测厚仪
德国EPK公司
MIKROTEST 涂层测厚仪 德国EPK公司生产的MIKROTEST 覆层测厚仪、测量钢上所有非磁性涂层镀层厚度(如漆、粉末涂层、塑料、锌、铜、锡及镍)。测量快速、精确、无损,三十多年来 MICROTEST 已成为被广泛应用的自动测定涂镀层厚度的专用仪器。德国的“诀窍”说明它在工艺技术及精度方面,具有磁性覆层测厚仪的最高水准。
射线荧光镀层厚度测试仪
XULM系列
射线荧光镀层厚度测试仪, 测量模式用于:单、双及三层镀层系统, 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量, 双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量), 能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量.
涂层测厚仪
MC-2000
涂层测厚仪,镀层测厚仪: MC-2000 A 型测量范围:0-1500um MC-2000 C 型测量范围:0-5000um MC-2000 D 型测量范围:10-9000um
涡流涂层测厚仪
KD-1型
KD-1型涡流涂层测厚仪技术参数: 测量范围:0-1200um 测量精度:±(3%厚度值+1)um 存储容量:253个测量值(带日期) (可连接打印机)时钟、日期显示 EL背光、全中文汉显、全属机壳 测量材料:非铁基 外型尺寸:50×95×24mm
涂覆层测厚仪
CTG2300
CTG2300型便携式涂覆层测厚仪根据测头类型的不同,采用了磁性法和涡流法两种测厚方法。F型测头采用磁性法,可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。N型测头采用涡流法,可测量非铁磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)和奥氏体不锈钢上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
涂覆层测厚仪
CTG2200
CTG2200涂覆层测厚仪,便携式涂覆层测厚仪可快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。配置不同的测头,适用于不同场合。
微区镀层测厚仪
JF-XRF910
JF-XRF910微区镀层测厚仪运用X射线荧光法对镀层厚度进行微区测量,核心技术源自中科院研究所。具有开放式结构,三维移动样品台安装在仪器外部,因此不受被测样品体积大小的限制。左侧、右侧、前侧三个方向的开口度是无限的;后侧的开口深度有150mm和250mm两种规格。适用于线路板等面积或体积比较大的被测样品。还可做镀层分析。
红外薄膜测厚仪
KSHW-A型
KSHW-A型红外薄膜测厚仪:本仪器广泛应用于各种透明半透明塑料薄膜、纸张等产品的在线测量监控。信集、处理、图像显示、报表、报警等功能.
涡流测厚仪
KSWH-B型
KSWH-B型涡流测厚仪适用范围: 适用于检测金属板、箔的厚度;涂层、镀层、塑料、橡胶及PVC板材、片材的厚度。
扫描式激光测厚仪
XY-FS型
XY-FS型扫描式激光测厚仪:适用范围:反射式激光测厚仪广泛应用于各种透明及非透明板材、片材、泡沫板、中空板材、防水卷材、薄膜等产品在运行过程中的厚度测量。采用精密“口”字形扫描机构连续对被测物进行宽度方向上的左右扫描,工业用计算机采集数据,具有数据处理、图形曲线显示、偏差报警等功能。
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